半導體探針在電子元器件上的應用
文章出處:常見問題 責任編輯:深圳市華榮華電子科技有限公司 閱讀量:- 發表時間:2025-10-31 00:00:00
半導體探針是電子元器件檢測與性能驗證的核心工具,核心作用是實現精準電連接與信號傳輸。
核心應用場景
芯片測試:晶圓級、封裝后芯片的電學參數檢測,如電壓、電流、電阻等。
元器件驗證:半導體器件、PCB板、傳感器等的導通性、穩定性測試。
微納操作:微小電子元器件的信號探測、失效分析與修復輔助。
關鍵特性要求
高精度:針尖尺寸微米/納米級,確保與微小觸點精準對接。
低接觸電阻:減少信號損耗,保證檢測數據準確性。
高耐磨性:適應高頻次測試場景,延長使用壽命。
兼容性:匹配不同元器件的引腳間距、材質與測試環境。







